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安捷伦ICP-OES分析水样快速、智能的方法

发布时间:2020-04-01   点击次数:333次

利用 Agilent 5900 SVDV ICP-OES实现快速可靠的 US EPA 方法 200.7 合规分析

一次分析即可测定所有元素 许多环境实验室使用 ICP-OES 并根据法规方法(例如 US EPA 200.7)来分析大量不 同类型的样品:水、土壤和污泥。为快速获得高质量的分析结果,快速分析和无差 错的工作流程至关重要。样品前处理或仪器性能不佳产生的错误可能导致必须重新 测量样品,进而导致分析效率降低。 Agilent 5900 同步垂直双向观测 (SVDV) ICP-OES 专为高通量实验室设计,旨在通 过少的氩气消耗实现快速的样品测量。5900 凭借 IntelliQuant 和早期维护反馈 (EMF) 诊断等一系列智能功能,提高了分析和仪器性能。获得额外的样品和操作信 息能够减少仪器意外停机和样品重新测量,让您对仪器的操作性能和分析结果更具 信心。

 

面向未来的 ICP-OES 分析: Agilent 5900 SVDV ICP-OES 采用了独特的智能光谱组合技术 (DSC)[1] 光学组件,能够 在一次读数过程中同时采集轴向和径向观测数据。与其他所有 ICP-OES 仪器相比, 5900 的样品测量时间缩短了一半,并且能够在短的时间内提供准确的结果,同 时单个样品的氩气消耗量低。通过控制单次分析成本,您的 ICP-OES 可处理更多 样品,从而满足不断增加的实验室需求。

 

利用智能工具缩短停机时间:ICP-OES 的主动维护功能对于满足 US EPA 200.7 等法规方法规定 的性能标准至关重要。5900 ICP-OES 利用智能 EMF 诊断功能来保持性能,大程度延长仪器的正常运行时间,并防患于未 然。EMF 对仪器的实际使用情况进行跟踪,不同颜色标识的计数 器(图 1)显示了哪些维护活动应当立即执行(红色),哪些可 以等待(绿色)。即使像蠕动泵管磨损这样的小问题也将对水样 分析通常要求的低检测限造成严重影响。EMF 系统可确保仅在必 要时更换消耗品。根据实际使用情况而不是预定计划表做出维护 决策,可节省时间、精力和费用。

 

标记异常结果: ICP Expert 软件的异常值条件格式 (OCF) 功能能够帮助您在大型 数据集中快速、轻松地找到可能存在问题的结果。通过配置该功 能可突出显示超出用户自定义限值或未通过测试的结果。例如, OCF 可识别通常由雾化器局部堵塞、泵管磨损或雾化室脏污导致 的低精密度(高 %RSD)结果。在图 2 中,OCF 对所有 %RSD 大 于 10% 的结果进行了标记(标记“B”)。 使用方法 200.7 分析的许多样品固体含量较高,因此可能会出现 雾化器局部堵塞。为检测雾化器堵塞(或泄漏),5900 使用 Neb Alert 功能持续监测雾化器反压,并与预期值进行比较。如果超过 压力阈值,则会立即提醒操作者可能发生了堵塞,从而实现快速 响应。

 

方法 200.7 合规分析 利用配备 AVS 7 切换阀系统的 5900 SVDV ICP-OES,根据 方法 200.7 进行水样的快速分析。MDL 如表 1 所示。每个 样品仅需 57 秒即可测定其中的所有元素,减少了单个样 品的氩气消耗量,大程度提高了收益。EMF 能够确保维持性能、大程度减少 QC 不合格,从而大程度减 少样品重新测量。

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