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安捷伦7500系列ICP-MS 的高基体样品引入 附件的性能特点

发布时间:2019/4/13   点击次数:97
 
提 供 商: 上海斯迈欧分析仪器有限公司 资料大小:
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高基体样品中多种痕量元素的测定一直是一个困难的 分析挑战。ICP 光学发射光谱(OES)具有优良的基 体承受能力和多元素同时分析能力,但灵敏度不足, 而且易受到复杂的光谱干扰。ICP-MS 具有难以逾越 的灵敏度和较少的干扰,但对可溶固体含量必须限制 到大约 0.1% 或更低。

 

我们将 安捷伦ICP-MS(以及 ICP-OES)的稳定性和其它性 能对于高溶解固体的耐受能力定义为“耐用性”。在 ICP-MS 中,这种耐用性是通过测量调谐的 CeO+/Ce+ 比值来评价的,CeO+ /Ce+ 比值越低意味着该等离子体 越耐用。

 

安捷伦先研发了许多新技术以改善其耐用性,包括 一种优化的低流速样品引入系统,该系统的炬管内 径较宽(2.5 mm),采用数字驱动的 27 MHz 射频发生器。这些创新技术使 Agilent 7500 八极杆反应池系 统(ORS)比其他任何 ICP-MS 都具有更好的高基体 样品分析性能,CeO+/Ce+ 比值大约 1%,而其他仪器 一般是 2%-3%。不过,即使拥有这些创新技术,但为 了获得稳定性,仍需限制总溶解固体(TDS)。 一般来讲,这意味着样品的稀释会随之带来一些缺点, 包括检出限变差,样品污染的可能性增加,制备时间 增加以及废液体积增加等。

 
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