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使用Agilent ICP-OES 对碳酸锂中的14种杂质元素进行测定

发布时间:2019/5/28   点击次数:185
 
提 供 商: 上海斯迈欧分析仪器有限公司 资料大小:
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本文介绍了一种使用 Agilent 5110 电感耦合等离子体发射光谱仪 (ICP-OES) 分析锂原材料 碳酸锂中多种杂质元素的方法,并对该方法进行了系统验证。结果显示,该方法的加标回 收率均在 94%–104% 之间,且 2.5 h 稳定性实验结果的相对标准偏差 (RSD) 小于 2%,证 明该方法具有良好的准确度和稳定性,适用于对多品牌、多批次碳酸锂中的杂质元素进行 分析。

 

采用 Agilent 5110 ICP-OES,该仪器配备 Vista Chip II 检测器,处 理速度达 1 MHz,整个波长范围一次测量一次读出,具有更快的 分析速度(在本实验中,完成一个样品分析仅需 50 s),且每个 样品分析的气体消耗量更少。同时该仪器拥有较宽的线性动态范 围,有助于大限度减少额外的样品稀释或同一样品多次读数的 需要,从而进一步提高样品通量。

 
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