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日立荧光分布成像系统

日立荧光分布成像系统

产品时间:2021-10-18

访问量:94

厂商性质:经销商

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简要描述:
为荧光分光光度计的配件系统,这是将相机与荧光分光光度计的结合,融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。

一、日立荧光分布成像系统(EEM View)简介

       作为荧光分光光度计的配件系统,这是将相机与荧光分光光度计的结合,融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。


 荧光分布成像系统结构.png

新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品,利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱,积分球下方的CMOS相机可获得样品图像,并利用独特的AI光谱图像处理算法,可以同时得到反射和荧光成分图像。

    二、  日立荧光分布成像系统(EEM View)特点:

    1. 可以全面测定样品的光谱数据(反射光、荧光特性)

不同光源条件下(白光和单色光)拍摄样品图像,(区域:Φ20mm、空间分辨率:0.1 mm左右、波长范围:360-700nm)同时利用先进的光谱算法,分别显示荧光图像和反射图像根据图像可获得不同区域的光谱信息(荧光光谱、反射光谱)


荧光分布成像系统软件分析(EEM View Analysis)界面(样品:LED电路板)

软件界面.png


2.  样品安装简单,适用于各种样品测试

样品只需摆放到积分球上,安装十分简单!

丰富的样品支架

样品支架.png

支持精确测量的校正工具

标准和空白样品.png


荧光分布成像系统是一种全新的技术,将它配置到荧光分光光度计中,改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状,可以查看样品图像任意区域的光谱信息,十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。



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