日立紫外/可见/近红外分光光度计

紫外可见区 紫外可见区沿用了经典型号UH4150，测光范围为８Abs。 另外，UH4150AD+采用了灵敏度更高的光电倍增管，可以依据样品的光学特性灵活选择检测器的切换波长。 凭借紫外可见近红外区宽的测光范围，非常适合评价近红外型光学元件，如自动驾驶等的传感设备LiDAR等光学元件及智能手机摄像头的滤光片、人脸识别滤光片等。 沿用备受好评的经典型号UH4150的光学系统 在测定固体样品的正反射时，入射角很重要。对于聚集光束，入射角会随焦距的变化而变化，从而造成导电多层膜和棱镜等光学薄膜预测值和实际值产生差异。 对于平行光束，所有样品的入射角都是近似于平行的，因此可以高精度测定正反射。另外，平行光束对于扩散性评价（雾度）、镜头透过率测定也是有效的。

本次开发的UH4150AD+（Advanced Spec Plus）是在延续了作为光学元件的光谱特性检测设备UH4150 系列的基础上，提升了其在近红外区域光谱特性测量性能，成为在先端行业很流行的测量光学元件的理想设备。

具有紫外可见区8Abs、近红外区7Abs的测光范围

l  紫外可见区

紫外可见区UH4150AD+采用了灵敏度更高的光电倍增管，测光范围为８Abs。并且可以依据样品的光学特性灵活选择检测器的切换波长。

l  近红外区

在近红外区域安装了高灵敏度的 InGaAs 探测器。 直射光探测器通过安装集成放大器的探测器实现低噪声，并支持近红外区域7Abs的测光范围。

沿用备受好评的UH4150光学系统

在测定固体样品的正反射时，入射角很重要。对于聚集光束，入射角会随焦距的变化而变化，从而造成导电多层膜和棱镜等光学薄膜预测值和实际值产生差异。

对于平行光束，所有样品的入射角都是近似于平行的，因此可以高精度测定正反射。另外，平行光束也可用于扩散性评价（雾度）、镜头透过率测定。